[发明专利]二维和三维一体化成像测量系统有效

专利信息
申请号: 201210006565.1 申请日: 2012-01-10
公开(公告)号: CN102589463A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 卢荣胜;董敬涛;史艳琼;夏瑞雪;陈琳 申请(专利权)人: 合肥工业大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01B11/06
代理公司: 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 34101 代理人: 何梅生
地址: 230009 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种二维和三维一体化成像测量系统,其特征是由像散自动对焦单元、光源单元、Linnik干涉单元和图像接收单元构成。本发明以固定的系统架构,集成了多种先进的成像技术,可以高效的应对各种精密测量的要求,主要运用于微零件结构的二维几何参数测试,MEMS、IC和光学微器件的加工、质量和表面形貌的检测,以及生物组织医学测量等。
搜索关键词: 维和 三维 一体化 成像 测量 系统
【主权项】:
二维和三维一体化成像测量系统,其特征是由像散自动对焦单元(1)、光源单元(2)、Linnik干涉单元(3)和图像接收单元(4)构成;在所述像散自动对焦单元(1)中,由半导体激光器(5)发出的中心波长为650nm的红光激光依次经分光光栅(6)和第一分光镜片(7)反射到反射镜(8)上,再经反射镜(8)反射进入准直镜(9)中,由所述准直镜(9)整形输出平行的红光激光光束进入光源单元(2);在所述光源单元(2)中,卤素灯(12)发出的宽光谱白光光束通过导光光纤(13)后依次经集光镜(14)、偏振片(15)和第二分光镜片(16),与来自像散自动对焦单元(1)的红光激光光束一起进入Linnik干涉单元(3);在所述Linnik干涉单元(3)中,白光光束和红光激光光束经过分光棱镜(17)分成相互垂直的参考光束和测量光束,分别进入参考臂和测量臂中;所述参考光束在参考臂中依次经过第一光阑(18)、第一1/4波片(19)和第一显微物镜(20)聚焦在由压电陶瓷驱动器(22)驱动的参考镜(21)上;所述测量光束在测量臂中依次经过第二光阑(24)、第二1/4波片(25)和第二显微物镜(26)聚焦到被测物(33)上;所述参考光束和测量光束分别在参考镜(21)和被测物(33)中反射后原路返回并汇合至分光棱镜(17),再由所述分光棱镜(17)分成相互垂直的两束光,其中的一束光按照原路依次经过第二分光镜片(16)、准直镜(9)和反射镜(8)后,再经第一分光镜片(7)和像散透镜(10)聚焦在四象限探测器(11)上;另一束光进入图像接收单元(4)中;在所述图像接收单元(4)中,红光激光光束被带阻滤光片(27)阻挡;白光光束经过带阻滤光片(27)后由偏振分光棱镜(28)分成相互垂直的水平偏振光和垂直偏振光,再分别通过水平偏振筒镜(29)和垂直偏振筒镜(31),成像在水平偏振CCD相机(30)和垂直偏振CCD相机(32)上。
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