[发明专利]二维和三维一体化成像测量系统有效
申请号: | 201210006565.1 | 申请日: | 2012-01-10 |
公开(公告)号: | CN102589463A | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
发明(设计)人: | 卢荣胜;董敬涛;史艳琼;夏瑞雪;陈琳 | 申请(专利权)人: | 合肥工业大学 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24;G01B11/06 |
代理公司: | 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 34101 | 代理人: | 何梅生 |
地址: | 230009 *** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 维和 三维 一体化 成像 测量 系统 | ||
1.二维和三维一体化成像测量系统,其特征是由像散自动对焦单元(1)、光源单元(2)、Linnik干涉单元(3)和图像接收单元(4)构成;
在所述像散自动对焦单元(1)中,由半导体激光器(5)发出的中心波长为650nm的红光激光依次经分光光栅(6)和第一分光镜片(7)反射到反射镜(8)上,再经反射镜(8)反射进入准直镜(9)中,由所述准直镜(9)整形输出平行的红光激光光束进入光源单元(2);
在所述光源单元(2)中,卤素灯(12)发出的宽光谱白光光束通过导光光纤(13)后依次经集光镜(14)、偏振片(15)和第二分光镜片(16),与来自像散自动对焦单元(1)的红光激光光束一起进入Linnik干涉单元(3);
在所述Linnik干涉单元(3)中,白光光束和红光激光光束经过分光棱镜(17)分成相互垂直的参考光束和测量光束,分别进入参考臂和测量臂中;所述参考光束在参考臂中依次经过第一光阑(18)、第一1/4波片(19)和第一显微物镜(20)聚焦在由压电陶瓷驱动器(22)驱动的参考镜(21)上;所述测量光束在测量臂中依次经过第二光阑(24)、第二1/4波片(25)和第二显微物镜(26)聚焦到被测物(33)上;所述参考光束和测量光束分别在参考镜(21)和被测物(33)中反射后原路返回并汇合至分光棱镜(17),再由所述分光棱镜(17)分成相互垂直的两束光,其中的一束光按照原路依次经过第二分光镜片(16)、准直镜(9)和反射镜(8)后,再经第一分光镜片(7)和像散透镜(10)聚焦在四象限探测器(11)上;另一束光进入图像接收单元(4)中;
在所述图像接收单元(4)中,红光激光光束被带阻滤光片(27)阻挡;白光光束经过带阻滤光片(27)后由偏振分光棱镜(28)分成相互垂直的水平偏振光和垂直偏振光,再分别通过水平偏振筒镜(29)和垂直偏振筒镜(31),成像在水平偏振CCD相机(30)和垂直偏振CCD相机(32)上。
2.根据权利要求1所述的二维和三维一体化成像测量系统,其特征是:所述像散自动对焦单元(1)采用去除聚焦透镜的DVD激光读取头。
3.根据权利要求1所述的二维和三维一体化成像测量系统,其特征是:
定义在呈水平设置的测量系统中,光路坐标为:沿着光束传播的方向为Z轴,在与Z轴垂直的X-Y平面中,沿水平方向为X轴,沿竖直方向为Y轴;
所述光源单元(2)中的偏振片(15)的光轴与测量系统的光路坐标系(34)中的X轴平行。
4.根据权利要求1所述的二维和三维一体化成像测量系统,其特征是:
定义在呈水平设置的测量系统中,光路坐标为:沿着光束传播的方向为Z轴,在与Z轴垂直的X-Y平面中,沿水平方向为X轴,沿竖直方向为Y轴;
所述Linnik干涉单元(3)中的第一1/4波片(19)和第二1/4波片(25)的快轴分别与测量系统的光路坐标系(34)中的X轴呈22.5°和45°的夹角;第一显微物镜(20)和第二显微物镜(26)是一对型号相同的显微物镜;第一显微物镜(20)、参考镜(21)和压电陶瓷驱动器(22)固定在可沿光路坐标系(34)的Z轴方向移动的精密位移平台(23)上。
5.根据权利要求1所述的二维和三维一体化成像测量系统,其特征是:所述图像接收单元(4)中的水平偏振筒镜(29)和垂直偏振筒镜(31)是一对型号相同的筒镜;水平偏振CCD相机(30)和垂直偏振CCD相机(32)是一对型号相同的CCD相机。
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