[发明专利]用于大口径平行光束光谱辐照度的测量系统及方法无效

专利信息
申请号: 201210001098.3 申请日: 2012-01-04
公开(公告)号: CN102519594A 公开(公告)日: 2012-06-27
发明(设计)人: 张颖;赵慧洁;丁振敏 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28;G01M11/02
代理公司: 北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 代理人: 王顺荣;唐爱华
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 用于大口径平行光束光谱辐照度的测量系统及方法,测量系统包括标准平行光源、辅助光学系统、扫描镜、光阑及探测系统。测量方法为:首先,将口径为d、光谱辐通量为Φ1(λ)的标准平行光入射到扫描镜上,扫描镜将其反射到辅助光学系统,最后进入探测系统,此时探测到的光谱辐照度为E1(λ)。其次,旋转扫描镜使得待测平行光通过通光面积为A的光阑并入射到扫描镜上,扫描镜将其反射到辅助光学系统,最后进入探测系统,此时探测到的光谱辐照度为E2(λ)。最后,由两次探测到的光谱辐照度求出通过光阑的待测平行光的光谱辐通量得到其光谱辐照度通过同步移动光阑及扫描镜,该测量系统可以完成对大口径待测平行光束的扫描,从而可测得待测光束不同位置的光谱辐照度。
搜索关键词: 用于 口径 平行 光束 光谱 辐照 测量 系统 方法
【主权项】:
一种用于大口径平行光束光谱辐照度的测量系统,其特征在于:该测量系统包括标准平行光源(1)、光束扫描装置、辅助光学系统、探测系统;其中光束扫描装置由光阑(2)、扫描镜(3)、电控旋转台(8)和电控平移台(9)组成,光阑(2)底板固定在电控平移台(9)之上,电控旋转台(8)固定在光阑(2)底板之上,扫描镜(3)固定在电控旋转台(8)之上;其中辅助光学系统包括抛物镜(4)和折叠镜(5);探测系统包括积分球(6)、光谱仪(7)和计算机(10)。
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