[发明专利]质量分析器和质量分析方法有效
| 申请号： | 201180070450.2 | 申请日： | 2011-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN103493173A | 公开（公告）日： | 2014-01-01 |
| 发明（设计）人： | L.丁;M.苏达科夫;S.库马希罗 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | H01J49/42 | 分类号： | H01J49/42;H01J49/02 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 王岳;胡莉莉 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种用于质量分析的静电离子阱包括第一电极阵列和与第一电极阵列分隔开的第二电极阵列。第一和第二电极阵列可以是由平行的带状电极或者由同心的圆形或部分圆形的导电环形成的平面阵列。这些阵列的电极被提供有基本相同的电压模式，由此阵列之间的空间内电位的分布如此以至于在飞行方向等时地反射离子，使得它们在所述空间内经受基本聚焦在阵列之间的中间位置的周期振荡运动。放大器电路用于检测像电流，所述像电流具有与经受周期振荡运动的离子的质荷比有关的频率分量。 | ||
| 搜索关键词： | 质量 分析器 分析 方法 | ||
【主权项】：
一种用于质量分析的静电离子阱，包括：第一电极阵列和与第一电极阵列分隔开的第二电极阵列，在使用中向第一和第二电极阵列的电极提供电压以在电极阵列之间的空间内产生静电场，其中，在使用中，第一阵列的电极和第二阵列的电极被提供有基本相同的电压模式，由此所述空间内电位的分布如此以至于在飞行方向上等时地反射离子，从而使得它们在所述空间内经受基本聚焦在所述第一和第二电极阵列之间的中间位置的周期振荡运动，并且其中，所述阵列的至少一个电极连接到放大器电路，用于检测像电流，所述像电流具有与在第一和第二电极阵列之间的所述空间内经受所述周期振荡运动的离子的质荷比有关的频率分量。
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