[发明专利]具有改进的计数器结构的单光子计数检测器系统有效
| 申请号： | 201180067558.6 | 申请日： | 2011-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN103430533B | 公开（公告）日： | 2017-03-08 |
| 发明（设计）人： | 贝恩德·施米特;安娜·贝尔加马斯基;阿尔多·莫扎尼卡;罗伯托·迪纳波利 | 申请（专利权）人： | 保罗·谢勒学院 |
| 主分类号： | H04N5/3745 | 分类号： | H04N5/3745;H04N5/32;G01N23/00;G01T1/00;G01T1/24 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人： | 朱胜,陈炜 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种单光子计数检测器系统（14），包括a)感光材料层（4）；b)在所述感光材料层（4）中布置的NxM光检测器二极管（2）阵列；每个所述光检测器二极管（2）具有偏压接口（12）和二极管输出接口，每个光检测器二极管（2）的所述偏压接口（12）连接到偏压（Vbias）；c)NxM高增益、低噪声读取单元（RO）阵列，每个光检测器二极管(2)具有一个读取单元（RO）；d)每个读取单元（RO）包括d1)连接到所述二极管输出接口的输入接口（IN）、包括集成电容器（Cint）的高增益电压放大装置(amp)，d2)至少两条并行数字计数器线路，d3)每条线路包括具有可独立选择的阈值(thresold1、threshold2)的比较器和确定数字计数器的计数间隔的可选通部(gate1、gate2)；e)多路复用装置，允许基于每个像素或对于若干像素并行访问读取单元，以读取数字计数器给数据处理装置，将数据从芯片传递到数据处理装置，特别是不形成读取单元的整体部分的外部读取电子器件。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 改进 计数器 结构 光子 计数 检测器 系统 | ||
【主权项】：
一种单光子计数检测器系统(14)，包括：a)感光材料层(4)；b)在所述感光材料层(4)中布置的NxM光检测器二极管(2)阵列；每个所述光检测器二极管(2)具有偏压接口(12)和二极管输出接口，每个光检测器二极管(2)的所述偏压接口(12)连接到偏压(Vbias)；c)NxM高增益、低噪声读取单元(RO)阵列，每个光检测器二极管(2)具有一个读取单元(RO)；d)每个读取单元(RO)包括：d1)连接到所述二极管输出接口的输入接口(IN)、包括集成电容器(Cint)的高增益电压放大装置(amp)，d2)至少两条并行数字计数器线路，d3)每条线路包括具有可独立选择的阈值(threshold1、threshold2)的比较器和对于每条计数器线路独立地确定所述数字计数器的计数间隔的可选通部(gate1、gate2)，e)多路复用装置，允许基于每个像素或对于若干像素并行访问所述读取单元，以读取所述数字计数器给数据处理装置，将数据从芯片传递到所述数据处理装置。
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