[发明专利]可监视的分光测量装置无效

专利信息
申请号: 201180052542.8 申请日: 2011-10-27
公开(公告)号: CN103189735A 公开(公告)日: 2013-07-03
发明(设计)人: 山崎登志夫 申请(专利权)人: 三鹰光器株式会社
主分类号: G01N21/27 分类号: G01N21/27;G01J3/02;G02B5/04
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 曾贤伟;曹鑫
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 可监视的分光测量装置设置有从测定对象(Sm)经由光学系统(30)、狭缝-反射镜模块(21)的狭缝部(23)到达分光器主体(25)的第一光路(L1)、从测定对象(Sm)经由光学系统(30)、狭缝-反射镜模块(21)的镜面(22)到达二维摄像装置(40)的第二光路(L2)。狭缝部(23)和分光器主体(25)成为一体地构成分光部(20)。
搜索关键词: 监视 分光 测量 装置
【主权项】:
一种可监视的分光测量装置,其特征在于,设置有从测定对象到分光器主体的引导第一光线的第一光路、从上述对象到二维摄像装置的引导第二光线的第二光路,上述分光测量装置具备:上述第一光路和上述第二光路通过的光学系统;反射模块,其使通过了上述光学系统的上述第一光线透过并且反射上述第二光线,具备反射上述第一光线以外的光线的反射区域,并且在上述反射区域中形成位于上述第一光路中的上述光学系统的焦点面上的狭缝区域,上述分光器主体与上述反射模块相邻地配置。
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