[发明专利]通过散射对致动的簇的探测无效

专利信息
申请号: 201180032753.5 申请日: 2011-05-25
公开(公告)号: CN103097894A 公开(公告)日: 2013-05-08
发明(设计)人: A·兰佐尼;M·W·J·普林斯 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G01N33/543 分类号: G01N33/543
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 舒雄文;蹇炜
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 提供了一种探测涂覆有生物反应剂的超顺磁颗粒的簇的方法。提供了待分析的流体中的所述超顺磁颗粒的悬浮物。归因于所述流体内分析物的存在,容许所述颗粒形成簇;并且将以至少一个频率旋转的磁场施加至溶液。将光引导至所述流体,以及提取在磁场的频率的两倍的频率处的散射光的强度的幅度。通过根据磁场的频率来确定在两倍的场处的散射光的所测得的强度的幅度,可以实现频率相关的测量。可以使用频率相关的测量来确定簇的临界频率,以区分具有不同尺寸的簇或测量流体中的颗粒的磁化率的平均值和磁化率的统计离散。此外,提供了用于用于探测超顺磁颗粒的簇的设备的设备。
搜索关键词: 通过 散射 探测
【主权项】:
一种用于探测涂覆有生物反应剂的超顺磁颗粒的簇的方法,包括以下步骤:(a)在待分析的流体中提供所述超顺磁颗粒的悬浮物;(b)归因于所述流体内分析物的存在,容许所述颗粒形成簇;(c)施加以至少一个频率旋转的磁场;(d)将光束引导至所述流体;以及(e)测量所述流体中的所述颗粒散射的光的强度;以及(f)确定在所述磁场的频率的较高次谐波处的散射光的所测得的强度的幅度。
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