[发明专利]EM校准的实时质量控制有效

专利信息
申请号: 201180032617.6 申请日: 2011-05-27
公开(公告)号: CN102970926A 公开(公告)日: 2013-03-13
发明(设计)人: A·K·贾殷 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: A61B5/06 分类号: A61B5/06;A61B1/00;G06T7/00;A61B19/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 王英;刘炳胜
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 探头(20)在坐标系(11)内生成解剖对象(10)的多个图像体积(13i、13j),以及成像装置(21)生成表示所述解剖对象(10)的图像体积(13i、13j)的成像数据(22)。位置传感器(30)附接至所述探头(20),并且跟踪装置(31)生成表示在所述坐标系(11)内跟踪所述位置传感器(30)的跟踪数据(22)。配准装置(40)执行与所述图像体积(13i、13j)和所述位置传感器(30)之间的空间关系相关联的校准矩阵(51)的验证测试。所述验证测试包括测试相对于校准阈值(CT)的基于图像的体积运动(VMIB)与基于跟踪的体积运动(VMTB)之间的绝对差异。
搜索关键词: em 校准 实时 质量 控制
【主权项】:
一种图像引导的系统,包括:探头(20),其用于生成解剖对象(10)的多个图像体积(13i、13j),每个图像体积(13i、13j)是所述解剖对象(10)的基线图像体积(12)的不同子集;成像装置(12),其用于生成指示所述解剖对象(10)的所述图像体积(13i、13j)的成像数据(22);附接至所述探头(20)的位置传感器(30);跟踪装置(31),其用于生成表示在坐标系(11)内对所述位置传感器(30)的跟踪的跟踪数据(22);以及配准装置(40),其响应于所述成像数据(22)和所述跟踪数据(32)以执行与所述图像体积(13i、13j)和所述位置传感器(30)之间的空间关系相关联的校准矩阵(51)的验证测试,其中,所述验证测试包括测试相对于校准阈值(CT)的基于图像的体积运动(VMIB)与基于跟踪的体积运动(VMTB)之间的绝对差异,其中,所述基于图像的体积运动(VMIB)表示从成像数据(22)导出的在所述坐标系(11)内所述图像体积(13i、13j)的图像运动,并且其中,所述基于跟踪的体积运动(VMTB)表示从跟踪数据(32)导出的在所述坐标系(11)内所述图像体积(13i、13j)的跟踪运动。
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