[发明专利]改进的传感器测量方法有效
| 申请号： | 201180031587.7 | 申请日： | 2011-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN103097875A | 公开（公告）日： | 2013-05-08 |
| 发明（设计）人： | 安德斯·汉宁 | 申请（专利权）人： | 艾皮森泰克公司 |
| 主分类号： | G01N21/27 | 分类号： | G01N21/27;G01N21/41;G01N21/55 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 周靖;郑霞 |
| 地址： | 瑞典索*** | 国省代码： | 瑞典;SE |
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| 摘要： | 本发明提供了一种确定结合到光学传感器表面或从光学传感器表面释放的光学探针物种的数量的方法，其特征在于，所述确定包括在单个波长处或在一个以上的波长处确定与所述探针的折射率相关的至少一个物理被测量（x1i）的步骤，且还包括在单个波长处或在一个以上的波长处确定与所述探针的吸收率相关的至少一个物理被测量（x2j），以及另外使所述被测量的值与分别结合到所述表面或从所述表面释放的所述光学探针物种的数量相互关联。本发明还提供了用于校准光学传感器的方法以及试剂盒和计算机程序产品。 | ||
| 搜索关键词： | 改进 传感器 测量方法 | ||
【主权项】：
一种确定结合到光学传感器表面或从所述光学传感器表面释放的光学探针物种的数量的方法，其特征在于，所述确定包括以下步骤：a）在单个波长处或在一个以上的波长处确定与所述探针的折射率相关的至少一个物理被测量（x1i），且还包括b）在单个波长处或在一个以上的波长处确定与所述探针的吸收率相关的至少一个物理被测量（x2j），及另外c）使所述被测量的值与分别结合到所述表面或从所述表面释放的所述光学探针物种的数量相互关联。
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