[发明专利]改进的传感器测量方法

权利要求书

1.一种确定结合到光学传感器表面或从所述光学传感器表面释放的光学探针物种的数量的方法，其特征在于，所述确定包括以下步骤：

a）在单个波长处或在一个以上的波长处确定与所述探针的折射率相关的至少一个物理被测量（x_1i），且还包括

b）在单个波长处或在一个以上的波长处确定与所述探针的吸收率相关的至少一个物理被测量（x_2j），及另外

c）使所述被测量的值与分别结合到所述表面或从所述表面释放的所述光学探针物种的数量相互关联。

2.根据权利要求1所述的方法，其中步骤c）的所述相互关联涉及多元线性回归、主成分分析、因素分析、主成分回归、偏最小二乘法或者任何线性代数或多变量数据分析方法。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中步骤c）包括使用所述被测量的值来区别开测量噪声（N）和来自所述光学探针物种的结合或释放的信号。

4.根据任一前述权利要求所述的方法，其中步骤c）包括确定一组被测量的至少一个函数f：f({x₁₁，...,x_1m;x₂₁,...,x_2n})，使得结合到所述光学传感器表面或从所述光学传感器表面释放的所述光学探针的信噪比（S/N）增加，其中m≥1，n≥1。

5.根据权利要求4所述的方法，其中f是线性组合：f＝∑_i=1^m(k_1i x_1i)+∑_j＝1ⁿ(k_2j x_2j)。

6.根据权利要求5所述的方法，其中所述确定涉及估计f=∑_i=1^m(k_1ix_1i)+∑_j=1ⁿ(k_2j x_2j)中的至少一个常数k_1i或k_2j，使得结合到所述光学传感器表面或从所述光学传感器表面释放的所述光学探针的信噪比（S/N）增加。

7.根据权利要求6所述的方法，其中单个被测量x₁₁在步骤a）中被确定，且单个被测量x₂₁在步骤b）中被确定，而且步骤c）的确定涉及估计f(x₁₁，x₂₁)=x₁₁+k*x₂₁中的常数k，使得结合到所述光学传感器表面或从所述光学传感器表面释放的所述光学探针的信噪比（S/N）增加。

8.根据权利要求3-7中的任一项所述的方法，其中所述测量噪声（N）是由于结合到所述表面或从所述表面释放的至少一种额外的化学物种导致的，以及步骤c）包括使用所述被测量的值来区别开所述光学探针物种的结合或释放和所述至少一种额外的化学物种。

9.根据权利要求8所述的方法，其中所述测量噪声（N）已经借助于改变额外的化学物种分别到所述光学传感器表面的结合或从所述光学传感器表面的释放来确定。

10.根据权利要求3-7中的任一项所述的方法，其中所述测量噪声（N）是由于温度变化造成的，以及步骤c）包括使用所述被测量的值来区别开所述光学探针物种的结合或释放和温度变化噪声。

11.根据权利要求10所述的方法，其中所述测量噪声（N）已经借助于改变与所述光学传感器表面接触的介质的温度来确定。

12.根据权利要求3-7中的任一项所述的方法，其中所述测量噪声是由于与所述传感器表面接触的介质的组分的变化造成的，以及步骤c）包括使用所述被测量的值来区别开所述光学探针物种的结合或释放和所述组分的变化。

13.根据权利要求12所述的方法，其中所述测量噪声（N）已经借助于改变与所述光学传感器表面接触的介质的组分来确定。