[发明专利]孔检验系统及其检验方法有效
| 申请号： | 201180022195.4 | 申请日： | 2011-03-09 |
| 公开（公告）号： | CN102884421A | 公开（公告）日： | 2013-01-16 |
| 发明（设计）人： | 保罗·S·沙特尔沃思 | 申请（专利权）人： | 费德罗-莫格尔公司 |
| 主分类号： | G01N21/954 | 分类号： | G01N21/954 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人： | 邓琪 |
| 地址： | 美国密歇根州*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于检验界定了组件孔的内表面（12）的成像系统（10）及其检验方法。该系统包括一用于发射激光束（22）的激光光源。进一步地，该系统还包括一用于拍摄从内表面反射的激光束的摄像机（18）。孔内设置有至少一面第一镜子（20）。该激光光源用于直接发射相对于第一镜子的入射中心轴基本平行的激光束，并且该摄像机用于观察从内表面反射的激光束。 | ||
| 搜索关键词： | 检验 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种成像系统，其用于检验界定了一个组件孔的内表面，其特征在于，该系统包括：用于发射激光束的激光光源；用于拍摄从该内表面反射的激光束的摄像机；设置在该孔内的至少一面第一镜子；以及其中，该激光光源被构造为直射与所述第一镜子的入射中心轴平行的激光束，并且该摄像机构造为观察从该内表面反射的激光束。
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