[发明专利]元素分析装置以及方法无效
| 申请号： | 201180018530.3 | 申请日： | 2011-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN102834708A | 公开（公告）日： | 2012-12-19 |
| 发明（设计）人： | 栗田浩二;白崎俊浩;越裕之 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 许静;郭凤麟 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明实现了不使用气体就能够形成等离子体，能够小型轻量化的能够通过电气加热法进行原子吸光分析的元素分析装置。样品通过送液部（101）从流路（102）被送到原子化部（103），在电极（118）间施加电压。当在电极（118）上施加了电压时，电流和电场集中在原子化部（103），产生气泡，在该气泡中产生等离子体（110），通过等离子体（110）将样品中的元素原子化。通过光纤（105）等接受从光源（109）照射到原子化部（103）并透过的来自光源的光（111），并通过分光器（106）进行分光。通过检测器（107）检测该分光后的光量，并通过计算机（108）分析。 | ||
| 搜索关键词： | 元素 分析 装置 以及 方法 | ||
【主权项】：
一种原子吸光元素分析装置，其特征在于，包括：使测定样品原子化的原子化部（103）；配置在上述原子化部（103）上的两个电极（118）；向上述两个电极（118）施加电压，使位于上述原子化部（103）内的测定样品中产生等离子体的电源部（104）；向上述原子化部（103）照射光的光源（109）；以及检测通过了在位于上述原子化部（103）的测定样品中产生的等离子体的来自上述光源（109）的光，分析测定样品的原子吸光的原子吸光分析部（105~108）。
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