[实用新型]一种63路E1同时测量的PTN测试仪有效
| 申请号： | 201120569612.4 | 申请日： | 2011-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN202551070U | 公开（公告）日： | 2012-11-21 |
| 发明（设计）人： | 白岩 | 申请（专利权）人： | 深圳市夏光通信测量技术有限公司 |
| 主分类号： | H04L12/26 | 分类号： | H04L12/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山区麻*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种63路E1同时测量的PTN测试仪，由E1功能模块、SDH功能模块、时延电路及各种测试接口如PDH接口、SDH接口组成，关键是：还包括FPGA处理器、CPU处理器、人机交互界面和电源控制管理电路；测试信号通过对应的测试接口连接到相应的功能模块，在FPGA控制器和CPU处理器的控制下，完成各种测试项目；通过人机交互界面下达指令，能轻易实现E1测试、SDH测试保护63路E1同时测试等功能。本实用新型操作简易快捷，能同时测试63路E1的误码率、环路时延和保护倒换时延等问题且提高测试效率的63路E1同时测量的PTN测试仪。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 63 e1 同时 测量 ptn 测试仪 | ||
【主权项】：
一种63路E1同时测量的PTN测试仪，由E1功能模块、SDH功能模块、时延电路及各种测试接口如PDH接口、SDH接口组成，其特征是：还包括FPGA处理器、CPU处理器、人机交互界面和电源控制管理电路；测试信号通过对应的测试接口连接到相应的功能模块，在FPGA控制器和CPU处理器的控制下，完成各种测试项目；通过人机交互界面下达指令，能轻易实现E1测试、SDH测试保护63路E1同时测试等功能；其中E1模块用于PDH测试，SDH模块用于SDH测试。
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