[实用新型]高分辨X射线椭圆弯晶谱仪有效
| 申请号： | 201120541550.6 | 申请日： | 2011-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN202522529U | 公开（公告）日： | 2012-11-07 |
| 发明（设计）人： | 王瑞荣;肖沙里;董佳钦;王伟;熊俊 | 申请（专利权）人： | 上海激光等离子体研究所 |
| 主分类号： | G01N23/207 | 分类号： | G01N23/207 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人： | 张泽纯 |
| 地址： | 201800 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种高分辨X射线椭圆弯晶谱仪，包括椭圆弯晶和探测器，其特点是所述的椭圆弯晶的两个焦点按光束前进方向称为前焦点和后焦点，在所述的前焦点设置辐射光源，在所述的后焦点设置滤片狭缝组件，且后焦点位于该滤片狭缝组件的狭缝中，在辐射光源发出的光路上设置掠入射镜装置。本实用新型具有大谱窗、较好的集光效率、长工作距离、易于调试且使用方便外，还具有较高的实测光谱分辨率和信噪比。与现有同类仪器相比，提高谱图的信噪比3倍，光谱分辨率(λ/Δλ)能达到1000。 | ||
| 搜索关键词： | 分辨 射线 椭圆 弯晶谱仪 | ||
【主权项】：
一种高分辨X射线椭圆弯晶谱仪，包括椭圆弯晶（2）和探测器（4），其特征是所述的椭圆弯晶（2）的两个焦点按光束前进方向称为前焦点（A）和后焦点（B），在所述的前焦点（A）设置辐射光源，在所述的后焦点（B）设置滤片狭缝组件（3），且后焦点（B）位于该滤片狭缝组件（3）的狭缝中，在辐射光源发出的光路上设置掠入射镜装置（1）。
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