[实用新型]一种捕获高折射率微粒的装置无效

专利信息
申请号: 201120165467.3 申请日: 2011-05-20
公开(公告)号: CN202083830U 公开(公告)日: 2011-12-21
发明(设计)人: 黄猛;翁晓羽;林朋飞;满忠胜;田毅强 申请(专利权)人: 上海理工大学
主分类号: G02B21/32 分类号: G02B21/32;G02B21/36;G02B27/28;G21K1/00
代理公司: 上海东创专利代理事务所(普通合伙) 31245 代理人: 宁芝华
地址: 200093 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种捕捉高折射率微粒的装置,包括相干光源发射部件、光束整形部件、起偏器、偏振态调整装置、相位型空间光调制器、复光瞳滤波器、二向色镜、物镜、样品台、目镜、光电探测器、分析控制单元;所述的相干光源发射部件依次与光束整形部件、起偏器、偏振态调整装置、相位型空间光调制器、复光瞳滤波器和二向色镜光路连接;二向色镜与光束方向成45度夹角,二向色镜对s光反射,对p光透射;反射的s光束依次与物镜和样品台上的样品光路连接,样品反射的p光束依次通过物镜、二向色镜、目镜,最后由光电探测器件接收;光电探测器直接与分析控制单元连接,实现对微粒的控制。本装置具有对高折射微粒的灵活控制特性,且焦点分布具有准周期性与均匀性。
搜索关键词: 一种 捕获 折射率 微粒 装置
【主权项】:
一种捕捉高折射率微粒的装置,包括相干光源发射部件、光束整形部件、起偏器、偏振态调整装置、相位型空间光调制器、复光瞳滤波器、二向色镜、物镜、样品台、目镜、光电探测器、分析控制单元部件;其特征在于:所述的相干光源发射部件依次与扩束倍率可调的光束整形部件、起偏器和偏振态调整装置光路连接;偏振态调整装置产生的径向偏振光依次与相位型空间光调制器、复光瞳滤波器和二向色镜光路连接;二向色镜与光束方向成45度夹角,二向色镜对s光反射,对p光透射;反射的s光束依次与物镜和样品台上的样品光路连接,样品反射的p光束依次通过物镜、二向色镜、目镜,最后由光电探测器件接收;所述的光电探测器直接与分析控制单元连接,实现对微粒的控制。
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