[实用新型]一种读卡器测试治具

摘要

一种读卡器测试治具，包括主控芯片MCU、接口P1、P2、电容C1、C2和C3、电阻R1、稳压管D1、D2和D3。本实用新型的读卡器测试治具体积小，采用USB外置方式且可即插即用，使PC机通过USB总线方便地连接至测试治具，在MCU控制下进行读卡器数据采集和处理，使用相应的测试软件连接存储卡，执行数据的读写；能够准确测试此类读卡器在生产时的在线不良，提高产品生产品质。

主权项

一种读卡器测试治具，其特征在于：包括主控芯片MCU、接口P1、P2、电容C1、C2和C3、电阻R1、稳压管D1、D2和D3；MCU的VIO、VOD、REGIN、VBUS接脚、C1和C2的一端、D3的一端和P1的VBUS接脚连接于+5V电压；C1和C2的另一端和MCU的GND接脚接地；P1的D+接脚、MCU的D+接脚连接于D2的一端；P1的D 接脚、MCU的D 接脚连接于D1的一端；D1、D2和D3的另一端连接于P1的外壳；P1的GND接脚接地；MCU的VPP接脚接C3的一端，C3的另一端接地；MCU的RST接脚接R1的一端，R1的另一端接VIO信号；MCU的四个接脚分别连接于P2的VBUS、D+、D 和GND接脚。