[实用新型]一种读卡器测试治具无效
申请号: | 201120051604.0 | 申请日: | 2011-03-01 |
公开(公告)号: | CN201993745U | 公开(公告)日: | 2011-09-28 |
发明(设计)人: | 王益田;邬红露 | 申请(专利权)人: | 东莞市长田电子有限公司 |
主分类号: | G06F11/26 | 分类号: | G06F11/26;G06K17/00 |
代理公司: | 东莞市华南专利商标事务所有限公司 44215 | 代理人: | 刘克宽 |
地址: | 523710 广东省东莞市塘*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 读卡器 测试 | ||
技术领域
本实用新型涉及电子技术领域,特别是涉及一种读卡器测试治具。
背景技术
读卡器在出厂之前需要进行电脑读取测试,常规的测试方法是PC机在插入读卡器后,先为插入的SD卡等存储卡分配盘符,然后在系统中寻找读卡器的盘符,再读取SD卡内数据,以此确认读卡器的读卡性能。读卡器测试治具的速度和性能是影响读卡器的生产品之的重要因素,不可低估。
实用新型内容
本实用新型的目的在于避免现有技术中的不足之处而提供一种读卡器测试治具,测试以确认读卡器生产过程中的产品品质。
为达到上述目的,提供如下的技术方案。
一种读卡器测试治具,包括主控芯片MCU、接口P1、P2、电容C1、C2和C3、电阻R1、稳压管D1、D2和D3;MCU的VIO、VOD、REGIN、VBUS接脚、C1和C2的一端、D3的一端和P1的VBUS接脚连接于+5V电压;C1和C2的另一端和MCU的GND接脚接地;P1的D+接脚、MCU的D+接脚连接于D2的一端;P1的D-接脚、MCU的D-接脚连接于D1的一端;D1、D2和D3的另一端连接于P1的外壳;P1的GND接脚接地;MCU的VPP接脚接C3的一端,C3的另一端接地;MCU的RST接脚接R1的一端,R1的另一端接VIO信号;MCU的四个接脚分别连接于P2的VBUS、D+、D-和GND接脚。
MCU为AU6471GL。
P1连接于PC机USB接口。
P2连接于被检测的读卡器。
MCU的SUSPEND、RI、DCD、DTR、DSR、TXD、RXD、RTS和CTS接脚空置。
本实用新型的读卡器测试治具体积小,采用USB外置方式且可即插即用,使PC机通过USB总线方便地连接至测试治具,在MCU控制下进行读卡器数据采集和处理,使用相应的测试软件连接存储卡,执行数据的读写;能够准确测试此类读卡器在生产时的在线不良,提高产品生产品质。
附图说明
利用附图对本实用新型做进一步说明,但附图中的内容不构成对本实用新型的任何限制。
图1是本实用新型的一个实施例的电路图。
具体实施方式
结合以下实施例对本实用新型作进一步说明。
本实用新型的读卡器测试治具的一个实施例参照图1,包括主控芯片MCU、接口P1、P2、电容C1、C2和C3、电阻R1、稳压管D1、D2和D3;MCU的VIO、VOD、REGIN、VBUS接脚、C1和C2的一端、D3的一端和P1的VBUS接脚连接于+5V电压;C1和C2的另一端和MCU的GND接脚接地;P1的D+接脚、MCU的D+接脚连接于D2的一端;P1的D-接脚、MCU的D-接脚连接于D1的一端;D1、D2和D3的另一端连接于P1的外壳;P1的GND接脚接地;MCU的VPP接脚接C3的一端,C3的另一端接地;MCU的RST接脚接R1的一端,R1的另一端接VIO信号;MCU的四个接脚分别连接于P2的VBUS、D+、D-和GND接脚。
MCU为AU6471GL。
P1连接于PC机USB接口。
P2连接于被检测的读卡器。
MCU的SUSPEND、RI、DCD、DTR、DSR、TXD、RXD、RTS和CTS接脚空置。
本实用新型通过与计算机相连,MCU通过接口发送侦测到的指令给计算机,识别与读卡器连接的接口的类型,并解析出该接口的通讯协议/模式,使数据传输以解析到的通讯协议规范再发送给计算机,来判断所测试之读卡器是否合格。
最后应当说明的是,以上实施例仅用于说明本实用新型的技术方案而非对本实用新型保护范围的限制,尽管参照较佳实施例对本实用新型作了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换,而不脱离本实用新型技术方案的实质和范围。
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