[发明专利]一种高吸收率辐射吸收腔无效

专利信息
申请号: 201110439109.1 申请日: 2011-12-23
公开(公告)号: CN102538958A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 方伟;方茜茜;杨东军;王玉鹏 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01J1/04 分类号: G01J1/04
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人: 陶尊新
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 一种高吸收率辐射吸收腔,涉及光辐射测量领域,具体涉及一种高吸收率辐射吸收腔,它解决现有吸收腔在空间环境中使用时吸收率衰减严重、吸收率低的问题,包括腔入射口径、正圆锥面和与圆锥母线夹角为β的斜底面,腔入射口径位于圆锥体的细端,并且入射口径所在平面与圆锥体的轴线垂直;吸收腔的腔内壁涂有纯镜面反射的黑涂层,所述β为30°。本发明不仅适用于地面低温辐射计,还在太空的特殊环境中拥有更大的应有价值。能获得稳定、高吸收率(接近1)的辐射吸收腔。
搜索关键词: 一种 吸收率 辐射 吸收
【主权项】:
一种高吸收率辐射吸收腔,其特征是,该吸收腔包括腔入射口径(3)、正圆锥面(4)和与圆锥母线夹角为β的斜底面(5),腔入射口径(3)位于圆锥体(6)的细端,并且入射口径(3)所在平面与圆锥体(6)的轴线垂直;吸收腔内壁涂有纯镜面反射的黑涂层(7),所述β的角度值为30°。
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