[发明专利]具有过电压保护装置的构件及其测试方法有效

专利信息
申请号: 201110438803.1 申请日: 2011-12-16
公开(公告)号: CN102565639A 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: D·菲希斯勒;D·内泽;B·多泽;D·米勒;M·勒祖斯林德;F·格吕特 申请(专利权)人: ABB研究有限公司
主分类号: G01R31/12 分类号: G01R31/12;H02H9/04
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 汤春龙;李家麟
地址: 瑞士*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要: 发明名称为具有过电压保护装置的构件及其测试方法,该构件具有变阻器,变阻器可利用第一端子通过第一线路安置在电路布置的高电压电势上,而第二端子通过第二线路与地相连。另外设置有附加阻抗,附加阻抗可安置在第二端子和地或第一端子和高电压之间,或者固定地安装在这些位置上。可利用开关布置中断相应的线路。为了测试电路布置的耐电压性,首先中断第一线路或者第二线路并且引入附加阻抗。然后将测试电压施加到电路布置上。因为在变阻器上下降的电压比施加的测试电压小,所以可阻止变阻器过载。在过电压测试后又取消第一线路或第二线路的中断。
搜索关键词: 具有 过电压 保护装置 构件 及其 测试 方法
【主权项】:
用于在电路布置(2)中实施过电压测试的方法,至少一个过电压放电器(1)连接在所述电路布置(2)上,其中所述过电压放电器(1)具有变阻器(5),在正常运行中,所述变阻器(5)在第一端子(7)上通过第一线路(30)与高电压电势相连并且在第二端子(8)上通过第二线路(10)与地相连,并且其中在测试阶段期间测试电压被施加到所述电路布置(2)上,其特征在于,在所述测试阶段之前所述第一线路和/或所述第二线路(30、10)被中断,在所述测试阶段期间所述第一端子(7)保持与所述电路布置(2)相连并且所述第二端子(8)通过附加阻抗(17)与地相连,或所述第一端子通过所述附加阻抗(17)与所述电路布置(2)相连而所述第二端子保持与地相连,或所述第一端子和所述第二端子(7、8)分别通过附加阻抗(17)与地和所述电路布置(2)相连,其中所述附加阻抗相比所述中断的线路(30、10)具有更高的阻抗,以及在所述测试阶段之后所述第一线路和/或所述第二线路(30、10)的中断又被取消。
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