[发明专利]一种NAND FLASH的状态检测及映射方法有效

专利信息
申请号: 201110437805.9 申请日: 2011-12-22
公开(公告)号: CN102541676A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 郭鑫俊 申请(专利权)人: 福建新大陆通信科技股份有限公司
主分类号: G06F11/10 分类号: G06F11/10
代理公司: 福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙) 35212 代理人: 宋连梅
地址: 350000 福建省福州市马尾开发区儒*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明提供一种NAND FLASH的状态检测及映射方法,具体包括如下步骤:10、在存储器的头部根据存储器的信息建立映射表,所述映射表包括:表标识单元、表信息单元、映射单元和数据校验单元;20、对存储器进行初始化扫描以发现坏块,并将坏块的信息在映射表中标记出来;30、对映射表进行备份,创立备份表,用户在向存储器写入数据的时候,根据映射表的信息,再进行操作;40、存储器在使用过程中通过校验算法对存储器进行检测监控,如发现坏块,则对映射表进行更新。本发明方法简单易行,灵活实用,在保证稳定性的基础上,将检测出的各种状态体现在映射表中,然后根据映射表进行合理的各种操作。
搜索关键词: 一种 nand flash 状态 检测 映射 方法
【主权项】:
一种NAND FLASH的状态检测及映射方法,其特征在于:具体包括如下步骤:步骤10、在存储器的头部根据存储器的信息建立映射表,所述映射表包括:表标识单元、表信息单元、映射单元和数据校验单元;步骤20、对存储器进行初始化扫描以发现坏块,并将坏块的信息在映射表中标记出来;步骤30、对映射表进行备份,创立备份表,用户在向存储器写入数据的时候,根据映射表的信息,再进行相应的操作;步骤40、存储器在使用过程中通过校验算法对存储器进行检测监控,如发现坏块,则对映射表进行更新。
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