[发明专利]对发光二极管进行光电热老化综合检测的系统及方法

摘要

本发明公开了一种对多颗发光二极管器件在加速老化的同时，原位进行光、电、热综合测试的系统及方法。此检测系统包括发光二极管负载电路板(1)、电参数发生及测试装置(2)、多通道驱动控制装置(3)、光探测装置(4)、光探测控制装置(5)、光信号处理分析装置(6)、恒定温度控制装置(7)、温度探测装置(8)以及中央监控及处理计算机(9)。利用本发明，不仅能够对多颗发光二极管进行加速老化，而且可以通过计算机设定时间节点，对每一个发光二极管器件的电学、光学及热学热性进行逐个测试，以便全面了解LED发光二极管器件的整体物理特性。

主权项

一种对发光二极管进行光电热老化综合检测的系统，其特征在于，该系统包括；发光二极管器件负载电路板(1)，用于放置单颗或多颗待测发光二极管器件；电参数发生及测试装置(2)，用于控制点亮待测发光二极管器件所需的电信号，并实现测量单颗待测发光二极管器件的电学特性；多通道驱动控制装置(3)，用于对待测发光二极管器件提供激励源，切换信号通道，控制系统各部分组件；光探测装置(4)，用于接收从待测发光二极管器件发出的光信号，并将接收的光信号转换成电信号；光探测控制装置(5)，用于对光探测装置(4)进行控制，使其工作在正常状态；光信号处理分析装置(6)，用于分析处理光探测装置(4)输出的电信号；恒定温度控制装置(7)，用于给待测发光二极管器件提供一个恒定的环境温度；温度探测装置(8)，用于探测待测发光二极管器件的基点温度；以及中央监控及处理计算机(9)，用于利用软件实现控制数据的传输、采集及分析功能。