[发明专利]一种元器件性能测试前的清洁方法无效
| 申请号： | 201110426066.3 | 申请日： | 2011-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN103157624A | 公开（公告）日： | 2013-06-19 |
| 发明（设计）人： | 马强;李阳;田磊;李伟;朱长娥;董宝林;刘胜男;李树雯 | 申请（专利权）人： | 天津天维移动通讯终端检测有限公司 |
| 主分类号： | B08B3/12 | 分类号： | B08B3/12 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 300300 *** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种元器件性能测试前的清洁方法，包括(1)将待测元器件置于一个清洁的玻璃容器中，倒入清洗液至完全没过待测元器件；(2)将装有待测元器件和清洗液的玻璃容器放入超声清洗仪中进行超声清洗；(3)关闭超声清洗仪，将待测元器件取出，并进行干燥。本发明的有益效果是，使元器件测试前不仅可以达到理想的清洁放果，而且不会对元器件造成提前缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 元器件 性能 测试 清洁 方法 | ||
【主权项】：
一种元器件性能测试前的清洁方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)将待测元器件置于一个清洁的玻璃容器中，倒入清洗液至完全没过待测元器件；(2)将装有待测元器件和清洗液的玻璃容器放入超声清洗仪中进行超声清洗：(3)关闭超声清洗仪，将待测元器件取出，并进行干燥。
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