[发明专利]一种元器件性能测试前的清洁方法

说明书

技术领域

本发明属于电子电气测试领域，具体涉及一种元器件性能测试前的清洁方法。

背景技术

对电子电气元器件的性能测试直接影响到对产品质量的评价，测试结果的准确性不仅受测试过程中环境条件的影响，也与测试前样品的清洁与否有着密切的关系。目前许多元器件测试方法，如盐雾试验、沙尘试验等，均要求样品表面清洁、无保护层，以保证测试的有效性和准确性。在元器件生产过程中不可避免地会接触到灰尘和异物，同时一些元器件生产时会在表面涂覆保护性薄膜，因此需要在性能测试前对元器件进行合理的清洁。目前的清洁手段仅限于使用海绵等清洁用品擦拭，不仅达不到理想的清洁效果，还可能因操作不当引起样品在测试前即形成缺陷。

发明内容

本发明的主要口的是提供一种元器件性能测试前的清洁方法，使元器件测试前既可以达到理想的清洁效果，又不会对元器件造成提前缺陷。

本发明为解决上述问题所采用的解决方案为：

一种元器件性能测试前的清洁方法，包括如下步骤：

(1)将待测元器件置于一个清洁的玻璃容器中，倒入清洗液至完全没过待测元器件；

(2)将装有待测元器件和清洗液的玻璃容器放入超声清洗仪中进行超声清洗；

(3)关闭超声清洗仪，将待测元器件取出，并进行干燥。

按所述一种元器件性能测试前的清洁方法，第(1)步中所述清洗液为蒸馏水、醇、蒸馏水和醇的混合物、碳氟化合物和醇的混合物。

按所述一种元器件性能测试前的清洁方法，第(1)步中所述清洗液温度在20～70℃。

按所述一种元器件性能测试前的清洁方法，第(2)步中所述超声清洗的时间为30s～300s。

按所述一种元器件性能测试前的清洁方法，第(3)步中所述干燥方法包括a使用烘箱烘干；b使用吹风机吹上；c自然干燥。

按所述一种元器件性能测试前的清洁方法，第(3)步中所述干燥方法包括a使用烘箱烘干，烘箱温度为40～80℃；b使用吹风机吹干，吹风机送出的风的温度为0～50℃。

按所述一种元器件性能测试前的清洁方法，第(3)步中所述干燥方法包括使用吹风机吹干，吹风机送出的风速为4～20m/s。

本发明具有的优点和积极效果是：

本发明提供了一种元器件性能测试前的清洁方法，使元器件测试前不仅达到理想的清洁效果，又不会对元器件造成提前缺陷。

具体实施方式

下面结合实施例对本发明作进一步说明，但不能作为本发明的限定。

实例1：

一种元器件性能测试前的清洁方法，包括如下步骤：

(1)将待测元器件置于一个清洁的玻璃容器中，倒入99.5％乙醇溶液至完全没过待测元器件；

(2)将装有待测元器件和清洗液的玻璃容器放入超声清洗仪中，超声清洗120s；

(3)关闭超声清洗仪，将待测元器件取出，置于60℃的烘箱中进行干燥。

实例2：

一种元器件性能测试前的清沽方法，包括如下步骤：

(1)将待测元器件置于一个清洁的玻璃容器中，倒入温度为40℃的蒸馏水至完全没过待测元器件；

(2)将装有待测元器件和清洗液的玻璃容器放入超声清洗仪中，超声清洗180s；

(3)关闭超声清洗仪，将待测元器件取出，用风速为10m/s、出风温度为25℃的吹风进行干燥。