[发明专利]对现场可编程门阵列中查找表延迟故障进行检测的方法有效
| 申请号： | 201110424160.5 | 申请日： | 2011-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN103163448A | 公开（公告）日： | 2013-06-19 |
| 发明（设计）人： | 于芳;赵岩 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所;中国科学院半导体研究所 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 周国城 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种对现场可编程门阵列中查找表延迟故障进行检测的方法，该方法包括：步骤101：横向配置；步骤102：横向测试；步骤103：横向延迟测试；步骤104：纵向配置；步骤105：纵向测试；步骤106：纵向延迟测试；步骤107：定位延迟故障。 | ||
| 搜索关键词： | 现场 可编程 门阵列 查找 延迟 故障 进行 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种对现场可编程门阵列中查找表延迟故障进行检测的方法，该方法包括：步骤101：横向配置；步骤102：横向测试；步骤103：横向延迟测试；步骤104：纵向配置；步骤105：纵向测试；步骤106：纵向延迟测试；步骤107：定位延迟故障。
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