[发明专利]一种沟槽型绝缘栅场效应管有效
申请号: | 201110422748.7 | 申请日: | 2011-12-16 |
公开(公告)号: | CN103165673A | 公开(公告)日: | 2013-06-19 |
发明(设计)人: | 苗彬彬;苏庆 | 申请(专利权)人: | 上海华虹NEC电子有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/06 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 丁纪铁 |
地址: | 201206 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种沟槽型绝缘栅场效应管,包括N型外延层下形成有P型注入层,N型外延层上部形成有沟槽,沟槽内形成有栅氧化层和多晶硅栅,沟槽两侧形成有P型阱和N型有源区,N型有源区位于P阱上方,其中,N型有源区中形成有圆形镂空结构,层间氧化介质形成于沟槽、圆形镂空结构和N型有源区上方,接触孔下方具有P型注入区,接触孔穿过层间氧化介质将N型有源区和P型注入区连出。本发明的沟槽型绝缘栅场效应管减小了寄生的NPN的基极电阻RB,同时减小了寄生晶闸管NPN发射极的面积,从而降低了寄生晶闸管闩锁效应的发生几率。 | ||
搜索关键词: | 一种 沟槽 绝缘 场效应 | ||
【主权项】:
一种沟槽型绝缘栅场效应管,包括N型外延层下形成有P型注入层,N型外延层上部形成有沟槽,沟槽内形成有栅氧化层和多晶硅栅,沟槽两侧形成有P型阱和N型有源区,N型有源区位于P阱上方,其特征是:N型有源区中形成有圆形镂空结构,层间氧化介质形成于沟槽、圆形镂空结构和N型有源区上方,接触孔下方具有P型注入区,接触孔穿过层间氧化介质将N型有源区和P型注入区连出。
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