[发明专利]制造IC屏蔽镀膜的设备及IC的金属屏蔽膜层无效

专利信息
申请号: 201110420265.3 申请日: 2011-12-15
公开(公告)号: CN103132036A 公开(公告)日: 2013-06-05
发明(设计)人: 柳朝纶;邱耀弘;范淑惠 申请(专利权)人: 晟铭电子科技股份有限公司
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/14;H05K9/00
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人: 张全文
地址: 中国台湾台北市*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提供一种制造IC屏蔽镀膜的设备及IC的金属屏蔽膜层。此设备包括一基座、一工件架、若干个中频磁控靶及若干个多弧离子靶。基座包括一腔体。工件架设于腔体中且与若干个转轴活动性地连接,各转轴系包括至少一治具,治具放置至少一IC。各中频磁控靶及各多弧离子靶设于腔体中,中频磁控靶及多弧离子靶用以将一金属材料溅镀于IC上,藉此于IC的一表面形成至少一金属屏蔽膜层。本发明还提供一种IC的金属屏蔽膜层,其包括利用所述制造IC屏蔽镀膜的设备于一IC的一表面上制成的至少一金属屏蔽膜层。
搜索关键词: 制造 ic 屏蔽 镀膜 设备 金属
【主权项】:
一种制造IC屏蔽镀膜的设备,其包括:一基座,其包括一腔体;一工件架,设于所述腔体中,所述工作架与若干个转轴活动性地连接,各所述转轴包括至少一治具,所述治具放置至少一IC;以及若干个中频磁控靶及若干个多弧离子靶,所述中频磁控靶及所述多弧离子靶设于所述腔体中,所述中频磁控靶及所述多弧离子靶用以将一金属材料溅镀于所述IC上,藉此于所述IC的一表面形成至少一金属屏蔽膜层。
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