[发明专利]准单晶硅片的制绒方法无效
申请号: | 201110419867.7 | 申请日: | 2011-12-15 |
公开(公告)号: | CN102468371A | 公开(公告)日: | 2012-05-23 |
发明(设计)人: | 魏青竹;钱峰;陆俊宇;任军林;汪艳玲 | 申请(专利权)人: | 江苏腾晖电力科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;C30B33/10 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215542 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种准单晶硅片的制绒方法,其特点在于包括以下步骤:首先,采用湿法刻蚀方法去除以晶粒为主的准单晶硅片上的机械损伤层。之后,根据晶粒所占比例,采用等离子体刻蚀与反应离子刻蚀进行准单晶制绒。由此,等离子刻蚀和反应离子刻蚀无需去离子水,化学试剂用量少。同时,反应产物的排放污染小,安全,环境友好。而且,制绒后准单晶硅片反射率低于15%,表面陷光效果好,电池片可充分发挥准单晶硅片优势。制绒后表面织构化不依赖于晶向和衬底条件。可靠性高,易控制,硅片消耗量少,利于更薄硅片应用。 | ||
搜索关键词: | 单晶硅 方法 | ||
【主权项】:
准单晶硅片的制绒方法,其特征在于包括以下步骤:步骤①,采用湿法刻蚀方法去除以晶粒为主的准单晶硅片上的机械损伤层;步骤②,根据晶粒所占比例,采用等离子体刻蚀与反应离子刻蚀进行准单晶制绒。
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