[发明专利]SRAM型FPGA电离总剂量辐照试验偏置装置无效
| 申请号： | 201110409667.3 | 申请日： | 2011-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN102540061A | 公开（公告）日： | 2012-07-04 |
| 发明（设计）人： | 孟猛;宁永成;于庆奎;陈旭东;唐民 | 申请（专利权）人： | 中国空间技术研究院 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 | 代理人： | 王勇 |
| 地址： | 100101*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种SRAM型FPGA电离总剂量辐照试验偏置装置，包括：偏置测试板；偏置测试板上的转接板，用于承载被测FPGA；偏置测试板上的配置状态检测单元；偏置测试板上的程控电源；配置管理单元。本发明还提供一种SRAM型FPGA电离总剂量辐照试验偏置装置操作方法。 | ||
| 搜索关键词： | sram fpga 电离 剂量 辐照 试验 偏置 装置 | ||
【主权项】：
一种SRAM型FPGA电离总剂量辐照试验偏置装置，包括：偏置测试板；偏置测试板上的转接板，用于承载被测FPGA；偏置测试板上的配置状态检测单元；偏置测试板上的程控电源；配置管理单元。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国空间技术研究院，未经中国空间技术研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201110409667.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
