[发明专利]阵列测试装置有效
| 申请号： | 201110408404.0 | 申请日： | 2011-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN103033956A | 公开（公告）日： | 2013-04-10 |
| 发明（设计）人： | 崔珍荣 | 申请（专利权）人： | 塔工程有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G02F1/13357 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 张文;郭放 |
| 地址： | 韩国庆*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本文公开一种阵列测试装置，其构造为使得其长度减小。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种阵列测试装置，包括：透光支撑板，所述透光支撑板允许玻璃面板放置在其上，背光单元设置在所述透光支撑板下方；探针头支撑框架，所述探针头支撑框架延伸预定长度，且所述探针头支撑框架支撑设置有多个探针引脚的探针头；以及运动导引件，所述运动导引件沿水平地垂直于所述探针头支撑框架延伸方向的方向延伸，所述运动导引件导引所述探针头支撑框架的运动，其中，所述运动导引件延伸至所述透光支撑板的相对两端。
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