[发明专利]一种二维多工位装配成功率计算方法有效
申请号: | 201110406641.3 | 申请日: | 2011-12-09 |
公开(公告)号: | CN102495964A | 公开(公告)日: | 2012-06-13 |
发明(设计)人: | 文泽军;朱正强;刘德顺;杨书仪;赵延明;蔡春波 | 申请(专利权)人: | 湖南科技大学 |
主分类号: | G06F19/00 | 分类号: | G06F19/00 |
代理公司: | 湘潭市汇智专利事务所 43108 | 代理人: | 颜昌伟 |
地址: | 411201*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明公开了一种二维多工位装配成功率计算方法,包括以下步骤:1)建立由夹具定位销公差、零件孔公差所引起的定位偏差模型;2)采用数论网格方法对定位销公差、零件孔公差进行均匀采样,得到公差合适样本空间,并代入定位偏差模型,得到定位偏差样本空间;3)根据偏差流状态空间模型,计算得到偏差传递矩阵,并将定位偏差作为状态空间模型的输入偏差,并计算得到测点输出偏差;4)将计算结果和测点允许偏差进行比较,统计出合格样本数,再将其除以总样本数,则计算得到二维多工位装配成功率。本发明提出了一种面向二维多工位装配,基于偏差流状态空间模型的二维装配成功率计算方法,为二维多工位装配成功率预测提供了一种新的方法。 | ||
搜索关键词: | 一种 二维 多工位 装配 成功率 计算方法 | ||
【主权项】:
1、一种二维多工位装配成功率计算方法,包括以下步骤:1)建立由夹具定位销公差、零件孔公差所引起的定位偏差模型;2) 采用数论网格方法对定位销公差、零件孔公差进行均匀采样,得到公差合适样本空间,并代入定位偏差模型,得到定位偏差样本空间;3) 根据偏差流状态空间模型,计算得到偏差传递矩阵,并将定位偏差作为状态空间模型的输入偏差,并计算得到测点输出偏差;4) 将计算结果和测点允许偏差进行比较,统计出合格样本数,再将其除以总样本数,则计算得到二维多工位装配成功率。
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