[发明专利]多温度点同步动态高温加速老化测试设备无效
申请号: | 201110404101.1 | 申请日: | 2011-12-08 |
公开(公告)号: | CN102520280A | 公开(公告)日: | 2012-06-27 |
发明(设计)人: | 陈定夫 | 申请(专利权)人: | 台晶(宁波)电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R31/28 |
代理公司: | 上海泰能知识产权代理事务所 31233 | 代理人: | 宋缨;孙健 |
地址: | 315800 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明涉及一种多温度点同步动态高温加速老化测试设备,包括十六组独立温度控制烤箱,待测物固定线路板,测试探针子板,隔热板和测试主板以及带有控制软件的计算机,所述独立温度控制烤箱上依次设有所述待测物固定线路板、隔热板和测试探针子板,其中,测试探针子板上的探针与所述待测物固定线路板上的探针接触点相接触;所述测试探针子板上还设有测试主板,测试主板与计算机相连。本发明能有效区隔能耗需求范围,提供一种可同步多种高温环境及实现高于125℃的高温动态测试环境的晶振测试设备。 | ||
搜索关键词: | 温度 同步 动态 高温 加速 老化 测试 设备 | ||
【主权项】:
一种多温度点同步动态高温加速老化测试设备,包括十六组独立温度控制烤箱,待测物固定线路板(1),测试探针子板(2),隔热板(3)和测试主板(4)以及带有控制软件的计算机,其特征在于,所述独立温度控制烤箱上依次设有所述待测物固定线路板(1)、隔热板(3)和测试探针子板(2),其中,测试探针子板(2)上的探针与所述待测物固定线路板(1)上的探针接触点相接触;所述测试探针子板(2)上还设有测试主板(4),测试主板(4)与计算机相连。
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