[发明专利]多温度点同步动态高温加速老化测试设备无效
申请号: | 201110404101.1 | 申请日: | 2011-12-08 |
公开(公告)号: | CN102520280A | 公开(公告)日: | 2012-06-27 |
发明(设计)人: | 陈定夫 | 申请(专利权)人: | 台晶(宁波)电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R31/28 |
代理公司: | 上海泰能知识产权代理事务所 31233 | 代理人: | 宋缨;孙健 |
地址: | 315800 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 温度 同步 动态 高温 加速 老化 测试 设备 | ||
1.一种多温度点同步动态高温加速老化测试设备,包括十六组独立温度控制烤箱,待测物固定线路板(1),测试探针子板(2),隔热板(3)和测试主板(4)以及带有控制软件的计算机,其特征在于,所述独立温度控制烤箱上依次设有所述待测物固定线路板(1)、隔热板(3)和测试探针子板(2),其中,测试探针子板(2)上的探针与所述待测物固定线路板(1)上的探针接触点相接触;所述测试探针子板(2)上还设有测试主板(4),测试主板(4)与计算机相连。
2.根据权利要求1所述的多温度点同步动态高温加速老化测试设备,其特征在于,所述独立温度控制烤箱包括内部加热装置,所述内部加热装置与导热体形成加热盘(5),所述加热盘(5)上具有加热室,加热室的尺寸与待测物外型匹配。
3.根据权利要求1所述的多温度点同步动态高温加速老化测试设备,其特征在于,所述的待测物固定线路板(1)是依据不同类型晶振外型焊接脚垫所制作成的PCB板。
4.根据权利要求1所述的多温度点同步动态高温加速老化测试设备,其特征在于,所述的待测物固定线路板(1)为双面PCB板,一面固定有晶振,另一面固定有探针接触点。
5.根据权利要求1所述的多温度点同步动态高温加速老化测试设备,其特征在于,所述待测物固定线路板(1)与独立温度控制烤箱之间通过螺丝固定。
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