[发明专利]一种量化检测透平叶片残余应力的方法

摘要

本发明提供了一种量化检测透平叶片残余应力的方法，其能方便地对叶片的残余应力进行量化检测，检测结果直观。用与待检测叶片相同材质的材料制作U型试块；对至少两个U型试块上底板同时施加相同的压应力，当两个U型试块的上、下底板的外侧角点O、O’之间的距离d均减小4mm后撤除该压应力；分别检测撤除压应力后、两个U型试块上角点O、O’之间的距离d1；将两个U型试块进行热保温处理；对基准试块采用随炉冷的方式、对照检测试块采用待检测去应力方式进行去应力处理，检测两个试块在去应力处理后角点O、O’之间的距离d2；将d2与d1相减得到去应力前后两个试块的变形量Δd和Δd’；最后将两个试块的变形量Δd与Δd’进行差值比较，得到检测结果。

主权项

一种量化检测透平叶片残余应力的方法，其特征在于：其包括以下步骤：（1）采用与待检测透平叶片相同材质的材料制作U型试块，所述U型试的两底板等厚、且两底板的各表面相互平行；（2）取至少两个所述U型试块，一个为基准试块，一个为对照检测试块，对所述两个U型试块上底板同时施加相同的压应力，当所述两个U型试块的上、下底板的外侧角点O、O’之间的距离d均减小4mm后撤除该所述压应力；（3）分别检测撤除所述压应力后、所述两个U型试块的上、下底板外侧角点O、O’之间的距离d1；（4）将所述两个U型试块进行热保温处理；（5）对所述基准试块采用随炉冷却的方式进行去应力处理，对所述对照检测试块采用待检测去应力方式进行去应力处理，然后分别检测所述基准试块和对照检测试块在去应力处理后所述上、下底板的外侧角点O、O’之间的距离d2；（6）将步骤（5）中得到d2与步骤（3）中得到的d1相减得到去应力前后材料的变形量，其中所述基准试块的变形量为Δd，所述对照检测试块的变形量为Δd’；（7）将基准试块的Δd与待检测试块的Δd’进行比较，若两者差值较小，则所述待检测去应力方式的去除残余应力的效果较好，反之则较差。