[发明专利]集成电路通用输入/输出参数自动测试装置及方法有效
| 申请号： | 201110370610.7 | 申请日： | 2011-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN102508151A | 公开（公告）日： | 2012-06-20 |
| 发明（设计）人： | 潘子升;王希清;魏建中 | 申请（专利权）人： | 杭州士兰微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 杭州宇信知识产权代理事务所(普通合伙) 33231 | 代理人： | 张宇娟 |
| 地址： | 310012*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 一种集成电路通用输入输出参数自动测试装置及其方法，该测试装置包括主处理器模块、数字模拟转换模块和第一、第二多路选择开关，主处理器分别控制第一、第二多路选择开关选择被测集成电路的一个输入状态的输入/输出管脚和输出状态的输入/输出管脚，以及发送测试数字信号到数字模拟转换模块并经数字模拟转换模块转换成第一模拟信号输出到第一多路选择开关，输入状态的输入/输出管脚接收第一模拟信号，输出状态的输入/输出管脚输出电平信号，第二多路选择开关将所述电平信号输出到主处理器。采用本发明，集成电路通用输入输出参数在测试验证过程中具有测试效率高、耗时短、精度高以及测试验证成本高的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 通用 输入 输出 参数 自动 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种集成电路通用输入/输出参数自动测试装置，其特征在于包括主处理器、数字模拟转换模块、第一多路选择开关、第二多路选择开关，其中：数字模拟转换模块用于接收主处理器输出的测试数字信号并将其转换成第一模拟信号输出到第一多路选择开关；主处理器用于控制第一多路选择开关选择被测集成电路的其中一个输入状态的输入/输出管脚并将第一模拟信号输出到该输入状态的输入/输出管脚，以及控制第二多路选择开关选择被测集成电路的其中一个输出状态的输入/输出管脚并由该输出状态的输入/输出管脚输出电平信号，所述输入状态的输入/输出管脚与输出状态的输入/输出管脚不是同一管脚；第二多路选择开关用于将所述电平信号输出到主处理器，再由主处理器输出测试数字信号到数字模拟转换模块。
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