[发明专利]集成电路通用输入/输出参数自动测试装置及方法

说明书

所属技术领域

本发明属于集成电路测试技术领域，特别涉及集成电路通用输入/输出参数自动测试装置及方法。

背景技术

在测试验证阶段，对集成电路的测试验证是一项复杂烦琐又极需耐心和细心的工作，需要测试验证人员利用性能优良的仪器设备对集成电路进行细致严谨的测试验证，只有严格的测试验证才能保证集成电路的质量和生命力。

对于集成电路的通用输入/输出管脚，测试验证主要集中于输入高低电平、输出拉灌电流等的考核，目前主要是依靠搭线等方式来完成。SOC(System on a Chip，系统级芯片)是采用一种高度集成化、固件化的系统集成技术，把整个应用电子系统全部集成在一个芯片上。不同的SOC集成电路在功能和具体管脚分配上有很大的不同，但对其通用输入/输出参数(包括输入高电平、输入低电平、输出拉电流、输出灌电流等参数)的测试验证方法是通用的，目前常用的方法是人工手动测试，很多时候是依靠搭线等方式来完成，耗时长，精度低，全凭测试人员的掌控。

虽然生产线上会配有专门的测试设备，由于成本及场地等综合因素的影响，这些专门的测试设备不适合用于SOC集成电路的测试验证阶段。另外，由于集成电路之间差异性比较大以及测试验证工作的特性，不会专门配置昂贵的系统级测试装置，以免造成不必要的浪费，避免集成电路测试成本和芯片价格的上升。

发明内容

为了克服上述不足之处，本发明的第一目的是提出集成电路通用输入/输出参数自动测试装置，该装置能实现通用输入/输出参数自动化测试，解决了目前集成电路通用输入/输出参数在测试验证过程中测试效率低、耗时长、精度低、以及测试验证成本高的缺点。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：提出一种集成电路通用输入/输出参数自动测试装置该装置通过被测集成电路配套的测试头和被测集成电路相连接，操作控制自动完成被测集成电路通用输入/输出参数测试，本发明装置包含：主处理器、数字模拟转换模块、第一多路选择开关和第二多路选择开关；其中：

数字模拟转换模块用于接收主处理器输出的测试数字信号并将其转换成第一模拟信号输出到第一多路选择开关；

主处理器用于控制第一多路选择开关选择被测集成电路的其中一个输入状态的输入/输出管脚并将第一模拟信号输出到该输入状态的输入/输出管脚，以及控制第二多路选择开关选择被测集成电路的其中一个输出状态的输入/输出管脚并由该输出状态的输入/输出管脚输出电平信号，所述输入状态的输入/输出管脚与输出状态的输入/输出管脚不是同一管脚；

第二多路选择开关用于将所述电平信号输出到主处理器，再由主处理器输出测试数字信号到数字模拟转换模块。

进一步的，所述主处理器按照一定顺序输出测试数字信号给数字模拟转换模块，当所述测试数字信号逐渐由低到高、依次从第一电平值达到第二电平值、第三电平值时，第二多路选择开关输出的电平信号依次为低电平、不稳定状态电平和高电平，当所述输出的电平信号由不稳定状态变为稳定的高电平状态时，主处理器将此时的测试数字信号至电源电压之间的电压作为通用输入/输出参数中的输入高电平参数。

进一步的，所述主处理器按照一定顺序输出测试数字信号给数字模拟转换模块，当所述测试数字信号逐渐由高到低、依次从第四电平值达到第五电平值、第六电平值时，第二多路选择开关输出的电平信号依次为高电平、不稳定状态电平和低电平，当所述输出的电平信号由不稳定状态变为稳定的低电平状态时，主处理器将此时的测试数字信号至地之间的电压作为通用输入/输出参数中的输入低电平参数。

进一步的，所述集成电路通用输入/输出参数自动测试装置还包括模拟数字转换模块，所述模拟数字转换模块包括拉电流采样电路和模拟数字转换器，被测集成电路输入/输出管脚输出的高电平信号经第二多路选择开关输入到拉电流采样电路，拉电流采样电路进行采样和放大后输出第二模拟信号到模拟数字转换器，模拟数字转换器在主处理器使能控制下对第二模拟信号进行第二数字转换，转换后的第二数字信号被输出到主处理器作为输出拉电流参数。

进一步的，所述集成电路通用输入/输出参数自动测试装置还包括模拟数字转换模块，所述模拟数字转换模块包括灌电流采样电路和模拟数字转换器，被测集成电路输入/输出管脚输出的低电平信号经第二多路选择开关输入到灌电流采样电路，灌电流采样电路进行采样和放大后输出第二模拟信号到模拟数字转换器，模拟数字转换器在主处理器使能控制下对所述第二模拟信号进行模拟数字转换，转换后的第二数字信号被输出到主处理器作为输出灌电流参数。