[发明专利]集成电路及其测试方法有效
| 申请号： | 201110365803.3 | 申请日： | 2011-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN103116123A | 公开（公告）日： | 2013-05-22 |
| 发明（设计）人： | 林树森 | 申请（专利权）人： | 华邦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3181 | 分类号： | G01R31/3181 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 任默闻 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种集成电路，包括，一测试垫单元、一存储单元阵列、一第一切换单元、一边界扫描单元、一第二切换单元。测试垫单元在一测试模式下，传送一第一测试信息、第二测试信息或是一测试结果。存储单元阵列储存第一测试信息。第一切换单元在测试模式下，根据一第一使能信号，将第一测试信息传送给存储单元阵列，或根据一读取信号，将存储单元阵列所储存的一数据作为测试结果，传送至测试垫单元。边界扫描单元将第二测试信息转换成一扫描信息。第二切换单元在测试模式下，根据一第二使能信号，传送扫描信息给测试垫单元。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 及其 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种集成电路，其特征在于，包括：一测试垫单元，在一测试模式下，传送一第一测试信息、第二测试信息或是一测试结果，在一正常模式下，传送一存取信息；一存储单元阵列，用以储存所述第一测试信息或是所述存取信息；一第一切换单元，在所述测试模式下，根据一第一使能信号，将所述第一测试信息传送给所述存储单元阵列，或根据一读取信号，将所述存储单元阵列所储存的一数据作为所述测试结果，传送至所述测试垫单元；一边界扫描单元，将所述第二测试信息转换成一扫描信息；以及一第二切换单元，耦接所述第一切换单元，在所述测试模式下，根据一第二使能信号，传送所述扫描信息给所述测试垫单元。
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