[发明专利]一种表层调查中计算横波静校正量的方法有效

专利信息
申请号: 201110362209.9 申请日: 2011-11-16
公开(公告)号: CN103116184A 公开(公告)日: 2013-05-22
发明(设计)人: 崔士天;李培明;邓志文;倪宇东;王瑞贞;杜中东 申请(专利权)人: 中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司
主分类号: G01V1/36 分类号: G01V1/36
代理公司: 北京市中实友知识产权代理有限责任公司 11013 代理人: 刘天语;周慧麟
地址: 072751 河北*** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明是利用地震勘探微测井近地表表层调查中计算横波静校正量的方法。提取井中深部位置接收的一个横波初至时间和深度,得到一个调查点的时间和深度数值,进而得到全部横波微测井的时间和深度数值,对时间和深度值数据做插值运算得到工区时间模型和深度模型,用时间模型计算得到表层校正时间,用深度模型和基准面计算得到基准面校正时间、静校正量。本发明以得到高精度的静校正量即时间值为目标,避开了层位和速度解释的误差和多解性,用直接方法从已观测到的时间量计算静校正量,可以充分地发挥微测井进尺深度的效能,减少了打井很深而解释高速顶很浅造成的施工浪费。
搜索关键词: 一种 表层 调查 计算 横波静 校正 方法
【主权项】:
一种表层调查中计算横波静校正量的方法,特点是具体实现步骤如下:1)对野外已经采集得到的一口横波微测井,提取井中深部位置接收的一个横波初至时间和深度,得到一个调查点的时间和深度数值;2)对工区全部横波微测井都采用步骤1)的方式处理,得到全部横波微测井的时间和深度数值;3)对全部时间和深度值数据做插值运算,得到整个工区的时间模型和深度模型;4)用时间模型计算得到表层校正时间,用深度模型和基准面计算得到基准面校正时间,得到静校正量:静校正量t采用以下公式计算:t=‑t0+t1       (1)其中: t 1 = E - d v r - - - ( 2 ) 式中:t0为表层校正时间;t1为基准面校正时间;E为基准面高程;d为深度模型上的深度;vr为填充速度。
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