[发明专利]一种表层调查中计算横波静校正量的方法

权利要求书

1.一种表层调查中计算横波静校正量的方法，特点是具体实现步骤如下：

1)对野外已经采集得到的一口横波微测井，提取井中深部位置接收的一个横波初至时间和深度，得到一个调查点的时间和深度数值；

2)对工区全部横波微测井都采用步骤1)的方式处理，得到全部横波微测井的时间和深度数值；

3)对全部时间和深度值数据做插值运算，得到整个工区的时间模型和深度模型；

4)用时间模型计算得到表层校正时间，用深度模型和基准面计算得到基准面校正时间，得到静校正量：

静校正量t采用以下公式计算：

t＝-t₀+t₁       (1)

其中：t1=E-dvr---(2)]]>

式中：

t₀为表层校正时间；

t₁为基准面校正时间；

E为基准面高程；

d为深度模型上的深度；

v_r为填充速度。

2.根据权利要求1所述的方法，特点是步骤1)对野外已经采集得到的一口横波微测井，提取井中深部位置接收的一个横波初至时间和深度，得到一个调查点的时间和深度数值；

3.根据权利要求1所述的方法，特点是步骤1)所述的横波初至是选取能量强，起跳干脆，时间可靠且位置比较深的横波初至。

4.根据权利要求1所述的方法，特点是步骤1)所述的横波初至时间和深度是提取井中深部位置接收的一个以上的横波初至时间和深度，对这些初至时间值和深度值分别求平均值，得到一个调查点的时间和深度数值；

5.根据权利要求1所述的方法，特点是步骤1)所述的选取是选择工区内的横波微测井绝大多数井的井深，且该井深有能量强，质量好的横波初至。

6.根据权利要求1所述的方法，特点是步骤1)所述的选取的井中深部位置深度范围长度在10m以内，应包含至少两个深度点的初至时间。

7.根据权利要求1所述的方法，特点是步骤3)中的插值运算不考虑时间模型，深度模型采用上下地层的相关系数约束。