[发明专利]一种沟槽型绝缘栅场效应管无效

专利信息
申请号: 201110357903.1 申请日: 2011-11-11
公开(公告)号: CN103107193A 公开(公告)日: 2013-05-15
发明(设计)人: 王邦麟 申请(专利权)人: 上海华虹NEC电子有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 丁纪铁
地址: 201206 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种沟槽型绝缘栅场效应管,包括P型注入区上方形成有N型外延层,N型外延层上方形成有多个P型阱和沟槽,各P型阱通过沟槽彼此隔离;每个P型阱的顶部形成有N型有源区和P型有源区,所述P型有源区将N型有源区隔离成两部分,所述N型有源区与沟槽相邻,所述沟槽内具有氧化层和多晶硅;其中,所述沟槽下方具有P型掺杂区。本发明的沟槽型绝缘栅场效应管在多晶硅栅下方增加轻掺杂P型掺杂区能提高器件的耐压性能。
搜索关键词: 一种 沟槽 绝缘 场效应
【主权项】:
一种沟槽型绝缘栅场效应管,包括P型注入区上方形成有N型外延层,N型外延层上方形成有多个P型阱和沟槽,各P型阱通过沟槽彼此隔离;每个P型阱的顶部形成有N型有源区和P型有源区,所述P型有源区将N型有源区隔离成两部分,所述N型有源区与沟槽相邻,所述沟槽内具有氧化层和多晶硅;其特征是:所述沟槽下方具有P型掺杂区。
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