[发明专利]变频采样方法有效
申请号: | 201110342434.6 | 申请日: | 2011-10-29 |
公开(公告)号: | CN102510286A | 公开(公告)日: | 2012-06-20 |
发明(设计)人: | 靳鸿;王燕;祖静;马铁华;陈昌鑫;付永乐;裴东兴;沈大伟;张红艳 | 申请(专利权)人: | 中北大学 |
主分类号: | H03M1/12 | 分类号: | H03M1/12 |
代理公司: | 北京太兆天元知识产权代理有限责任公司 11108 | 代理人: | 傅权;张明 |
地址: | 030051 山*** | 国省代码: | 山西;14 |
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摘要: | 本发明公开的变频采样方法属电子测试与信号采集技术领域,该变频采样方法是在一个测试过程中,以选定频率f0对模拟信号进行等间隔抽点采样,经过A/D转换得到数字信号读写存储在第一存储器中,在读写存储的同时根据被采样信号的频率特征变化分成1、2、…、n个子过程并按各个子过程采用改变存储器推进地址的频率f1、f2、…、fi对读、写存储在第一存储器中数据进行抽点采样再存储于第二存储器中,得到在一个测试过程的n个子过程之间的变频采样数据,实现变频采样,其中n≥i;其优点有:该变频采样方法克服了目前变频采样方法的不足,可保证变频采样数据能完整恢复,还设计、研制了一整套电子电路装置,该装置可实现变频采样方法;这种该变频采样方法值得采用和推广。 | ||
搜索关键词: | 变频 采样 方法 | ||
【主权项】:
一种变频采样方法,特征在于:该变频采样方法是根据被采样信号的特征变化来选择改变存储器推地址频率,实现变频采样的方法,即该变频采样方法是在一个测试过程中,对模拟信号进行等间隔抽点采样,经过A/D转换得到数字信号读写存储在第一存储器或寄存存储器中,在读写存储的同时根据被采样信号的特征变化分成若干个子过程并按各个子过程采用改变存储器推进地址的频率,对读写存储在第一存储器或寄存存储器中数据进行抽点采样再存储于第二存储器中,得到在一个测试过程的若干个子过程之间的变频采样数据,即实现变频采样,其中若干个子过程选择为1、2、…、n个子过程。
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