[发明专利]变频采样方法有效

专利信息
申请号: 201110342434.6 申请日: 2011-10-29
公开(公告)号: CN102510286A 公开(公告)日: 2012-06-20
发明(设计)人: 靳鸿;王燕;祖静;马铁华;陈昌鑫;付永乐;裴东兴;沈大伟;张红艳 申请(专利权)人: 中北大学
主分类号: H03M1/12 分类号: H03M1/12
代理公司: 北京太兆天元知识产权代理有限责任公司 11108 代理人: 傅权;张明
地址: 030051 山*** 国省代码: 山西;14
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摘要:
搜索关键词: 变频 采样 方法
【权利要求书】:

1.一种变频采样方法,特征在于:该变频采样方法是根据被采样信号的特征变化来选择改变存储器推地址频率,实现变频采样的方法,即该变频采样方法是在一个测试过程中,对模拟信号进行等间隔抽点采样,经过A/D转换得到数字信号读写存储在第一存储器或寄存存储器中,在读写存储的同时根据被采样信号的特征变化分成若干个子过程并按各个子过程采用改变存储器推进地址的频率,对读写存储在第一存储器或寄存存储器中数据进行抽点采样再存储于第二存储器中,得到在一个测试过程的若干个子过程之间的变频采样数据,即实现变频采样,其中若干个子过程选择为1、2、…、n个子过程。

2.根据权利要求1所述的变频采样方法,特征在于:该变频采样方法是在一个测试过程中,以采样频率f0对模拟信号进行等间隔抽点采样,经过A/D转换得到数字信号读写存储在第一存储器或寄存存储器中,在读写存储的同时根据被采样信号的特征变化的一个测试过程分成1、2、…、n个子过程并按各个子过程采用改变存储器推进地址的频率f1、f2、…、fi对读写存储在第一存储器或寄存存储器中数据进行抽点采样再存储于第二存储器中,得到在一个测试过程的n个子过程之间的变频采样数据,实现变频采样,其中n≥i。

3.根据权利要求2所述的变频采样方法,特征在于:所述的对模拟信号进行等间隔抽点采样是采用一个选定的采样频率,对模拟信号进行均匀的等间隔抽点采样。

4.根据权利要求2所述的变频采样方法,特征在于:所述的采用一个选定的采样频率、与向第一存储器或寄存存储器的写数据频率、存储在第一存储器或寄存存储器的地址推进频率一致。

5.根据权利要求2所述的变频采样方法,特征在于:所述的第一存储器或寄存存储器是具有负延迟功能的存储器。

6.根据权利要求2所述的变频采样方法,特征在于:所述的一个测试过程若是一个复杂的测试过程,将该测试过程按照信号特征变化快慢分为若干个子过程,各个子过程按照不同采样频率即不同推地址频率对第一存储器或寄存存储器中对应的若干个子过程存储数据进行抽点采样并存储在第二存储器中,在一个测试过程的若干个子过程之间实现变频采样。

7.根据权利要求6所述的变频采样方法,特征在于:选择采用频率比较模块,对若干个子过程的变频采样频率比较,当第i-1子过程采样频率快、第i子过程采样频率慢时,通过频率比较模块控制,启动计数器延迟改变第二存储器第i子过程推进地址频率,保证变频采样数据恢复完整。

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