[发明专利]光谱信息测量方法、颜色传感器和虚拟切片装置无效

专利信息
申请号: 201110284118.8 申请日: 2011-09-22
公开(公告)号: CN102445272A 公开(公告)日: 2012-05-09
发明(设计)人: 福永康弘 申请(专利权)人: 奥林巴斯株式会社
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28;G01J3/50
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉;黄纶伟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供了一种光谱信息测量方法、颜色传感器和虚拟切片装置。光谱信息测量方法可以包括步骤:控制基准像素基于从试样照射的光的量积累电荷;控制多个测量像素基于从所述试样照射并具有规定波长的光的量积累电荷;基于在规定测量时间内在所述基准像素中积累的电荷的变化量生成并输出基准信号;基于在所述规定测量时间内在所述多个测量像素中的每个测量像素中积累的电荷的变化量生成并输出多个测量信号;确定所述多个测量信号中的任意一个或更多个测量信号是否大于所述基准信号,并确定大于所述基准信号的测量信号包括饱和输出。
搜索关键词: 光谱 信息 测量方法 颜色 传感器 虚拟 切片 装置
【主权项】:
一种光谱信息测量方法,该光谱信息测量方法包括以下步骤:控制基准像素在规定测量时间内积累电荷,所述基准像素基于从试样照射的光的量积累电荷;控制多个测量像素在所述规定测量时间内积累电荷,所述多个测量像素基于从所述试样照射并具有规定波长的光的量积累电荷;基于在所述规定测量时间内在所述基准像素中积累的电荷的变化量生成并输出基准信号;基于在所述规定测量时间内在所述多个测量像素中的每个测量像素中积累的电荷的变化量生成并输出多个测量信号;确定所述多个测量信号中的任意一个或更多个测量信号是否大于所述基准信号,并确定大于所述基准信号的测量信号包括饱和输出。
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