[发明专利]同步时钟技术中的多层次时间测量和控制方法有效
| 申请号： | 201110279416.8 | 申请日： | 2011-09-20 |
| 公开（公告）号： | CN102323739A | 公开（公告）日： | 2012-01-18 |
| 发明（设计）人： | 杜保强;周渭;崔光照;安小宇;董绍锋;张勋才;于建国;魏平俊;方向前;曹玲芝;师宝山;路立平;过金超;谢泽会;任景英;李小明;王卓亚;牛莹;王延峰 | 申请（专利权）人： | 郑州轻工业学院 |
| 主分类号： | G04F13/00 | 分类号： | G04F13/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 450002*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种同步时钟技术中的多层次时间测量和控制方法，采用具有不同分辨率的测量方法对被测时间间隔进行并行的分层次高精度测量；每层次的测量具有不同的测量范围和测量精度，下一层测量总比上一层测量的测量分辨率和测量精度高，每一层测量都在CPU的控制下进行，上一层测量结果输入CPU，CPU根据该测量结果控制延时补偿模块确定延时量大小，在CPU控制下，延时量直接输出到下一层测量，延时量输出的同时，下一层测量开启，同时上一层测量关闭。使用这种分层次的时间测量方法，很好的解决了测量范围和分辨率的问题，也充分利用时间信号传递的稳定性达到了高分辨率的时间同步的控制。 | ||
| 搜索关键词： | 同步 时钟 技术 中的 多层次 时间 测量 控制 方法 | ||
【主权项】：
一种同步时钟技术中的多层次时间测量和控制方法，其特征在于，采用具有不同分辨率的测量方法对被测时间间隔进行并行的分层次高精度测量；每层次的测量具有不同的测量范围和测量精度，下一层测量总比上一层测量的测量分辨率和测量精度高，每一层测量都在CPU的控制下进行，上一层测量结果输入CPU，CPU根据该测量结果控制延时补偿模块确定延时量大小，在CPU控制下，延时量直接输出到下一层测量，延时量输出的同时，下一层测量开启，同时上一层测量关闭。
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