[发明专利]一种基于短期寿命试验数据的快速寿命评价方法在审
申请号: | 201110277713.9 | 申请日: | 2011-09-19 |
公开(公告)号: | CN102426307A | 公开(公告)日: | 2012-04-25 |
发明(设计)人: | 路国光;黄云;杨少华;雷志锋;冯敬东 | 申请(专利权)人: | 工业和信息化部电子第五研究所 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R31/26 |
代理公司: | 广州三环专利代理有限公司 44202 | 代理人: | 何传锋;程跃华 |
地址: | 510610 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于短期寿命试验数据的快速寿命评价方法,它包括如下步骤:(1)选择合适应力对器件进行寿命试验获得原始数据;(2)基于寿命试验获得的数据建立数学模型;(3)对寿命试验数据进行线性回归分析;(4)采用最小二乘法原理确定模型参数;(5)进行拟合优度检验计算,判断模型的有效性;(6)计算显著性检验统计量,确定给定显著性水平条件下,回归方程是否有意义;(7)利用weibull分布函数以及建立的数学模型,对试验器件的可靠性数量指标进行统计分析,获得器件的寿命指标和寿命分布。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 短期 寿命 试验 数据 快速 评价 方法 | ||
【主权项】:
一种基于短期寿命试验数据的快速寿命评价方法,其特征在于,它包括如下步骤:(1)选择合适应力对器件进行寿命试验获得原始数据;(2)基于寿命试验获得的数据建立数学模型;(3)对寿命试验数据进行线性回归分析;(4)采用最小二乘法原理确定模型参数;(5)进行拟合优度检验计算,判断模型的有效性;(6)计算显著性检验统计量,确定给定显著性水平条件下,回归方程是否有意义;(7)利用weibull分布函数以及建立的数学模型,对试验器件的可靠性数量指标进行统计分析,获得器件的寿命指标和寿命分布。
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