[发明专利]横向绝缘栅双极晶体管有效
申请号: | 201110274680.2 | 申请日: | 2011-09-09 |
公开(公告)号: | CN102403341A | 公开(公告)日: | 2012-04-04 |
发明(设计)人: | 户仓规仁;高桥茂树;芦田洋一;中川明夫 | 申请(专利权)人: | 株式会社电装 |
主分类号: | H01L29/47 | 分类号: | H01L29/47;H01L29/739 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 陈松涛;王英 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种N沟道横向绝缘栅双极晶体管,包括半导体衬底(1、30、40)、漂移层(2)、集电极区域(4)、沟道层(6)、发射极区域(7)、栅极绝缘膜(10)、栅电极(11)、集电极电极(12)、发射极电极(13)。集电极区域(4)包括具有高杂质浓度的高杂质浓度区域(4a)和杂质浓度比高杂质浓度区域(4a)低的低杂质浓度区域(4b)。集电极电极(12)与高杂质浓度区域(4a)欧姆接触并且与低杂质浓度区域(4b)肖特基接触。 | ||
搜索关键词: | 横向 绝缘 双极晶体管 | ||
【主权项】:
一种N沟道横向绝缘栅双极晶体管,包括:半导体衬底(1、30、40);漂移层(2),该漂移层(2)具有N导电类型并且设置在所述半导体衬底(1、30、40)上;集电极区域(4),该集电极区域(4)为P导电类型并且设置在所述漂移层(2)的第一表面部分中;沟道层(6),该沟道层(6)为P导电类型并且设置在所述漂移层(2)的远离所述集电极区域(4)的第二表面部分中;发射极区域(7),该发射极区域(7)为N导电类型并且具有比所述漂移层(2)高的杂质浓度,并且该发射极区域(7)设置在所述沟道层(6)的第一表面部分中且具有在所述沟道层(6)的终止部分内部终止的端部;栅极绝缘膜(10),该栅极绝缘膜(10)设置在沟道区域上,所述沟道区域由所述沟道层(6)的位于所述发射极区域(7)和所述漂移层(2)之间的第二表面部分提供;栅电极(11),该栅电极(11)设置在所述栅极绝缘膜(10)上;集电极电极(12),该集电极电极(12)与所述集电极区域(4)电耦合;以及发射极电极(13),该发射极电极(13)与所述发射极区域(7)和所述沟道层(6)电耦合,其中所述集电极区域(4)包括具有高杂质浓度的高杂质浓度区域(4a)和杂质浓度比所述高杂质浓度区域(4a)低的低杂质浓度区域(4b),并且其中所述集电极电极(12)与所述高杂质浓度区域(4a)欧姆接触并且与所述低杂质浓度区域(4b)肖特基接触。
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