[发明专利]一种触摸屏银线印刷质量的检验方法无效
| 申请号： | 201110273540.3 | 申请日： | 2011-09-15 |
| 公开（公告）号： | CN102323270A | 公开（公告）日： | 2012-01-18 |
| 发明（设计）人： | 王磊;赵勇;孙小天;王冬梅 | 申请（专利权）人： | 天津市中环高科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 天津中环专利商标代理有限公司 12105 | 代理人： | 王凤英 |
| 地址： | 300385 天津*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种触摸屏银线印刷质量的检验方法。本方法采用照明光源为冷光源，且表面带有均匀板的观片器作为背景检验光源，以保证灯光的均匀性及高照度；根据氧化铟锡薄膜的尺寸选择观片器的整体尺寸，观片器的照明面积要大于氧化铟锡薄膜，以增强对于氧化铟锡薄膜边缘的观察；观片器的厚度应控制在15cm以内，便于移动；将银浆印刷后的氧化铟锡薄膜平放到观片器上；采用18倍以上的放大镜，且将放大镜放到氧化铟锡薄膜上进行检验。采用本检验方法，提高了检验准确率，方法便捷，可操作性强，解决了传统检验方式操作难度大问题。由此提高了检验工序的效率，同时提高了触摸屏成品质量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 触摸屏 印刷 质量 检验 方法 | ||
【主权项】：
一种触摸屏银线印刷质量的检验方法，其特征在于：采用照明光源为冷光源，且表面带有均匀板的观片器作为背景检验光源，以保证灯光的均匀性及高照度；根据氧化铟锡薄膜的尺寸选择观片器的整体尺寸，观片器的照明面积要大于氧化铟锡薄膜，以增强对于氧化铟锡薄膜边缘的观察；观片器的厚度应控制在15cm以内，便于移动；将银浆印刷后的氧化铟锡薄膜平放到观片器上；采用18倍以上的放大镜，且将放大镜放到氧化铟锡薄膜上进行检验。
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