[发明专利]光学式检测系统、电子设备以及程序有效
| 申请号： | 201110260386.6 | 申请日： | 2011-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN102402311A | 公开（公告）日： | 2012-04-04 |
| 发明（设计）人： | 清濑摄内 | 申请（专利权）人： | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号： | G06F3/033 | 分类号： | G06F3/033;G06F3/042 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 李伟;王轶 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及光学式检测系统、电子设备以及程序。光学式检测系统具备：根据照射光被对象物反射而得到的反射光的受光结果来检测对象物的坐标信息的坐标信息检测部；和进行对坐标信息的检测的校准处理的校准部。在对象物被检测的区域、即检测区域被设定在沿着X-Y平面的对象面的情况下，坐标信息检测部至少检测Z方向上的坐标信息、即Z坐标信息。校准部进行对Z坐标信息的校准处理。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 检测 系统 电子设备 以及 程序 | ||
【主权项】：
一种光学式检测系统，其特征在于，该光学式检测系统具备：坐标信息检测部，其根据照射光被对象物反射而得到的反射光的受光结果，检测上述对象物的坐标信息；和校准部，其进行针对上述坐标信息的检测的校准处理，在上述对象物被检测的区域、即检测区域被设定在沿着X‑Y平面的对象面的情况下，上述坐标信息检测部至少检测Z方向上的上述坐标信息、即Z坐标信息，上述校准部进行针对上述Z坐标信息的上述校准处理。
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