[发明专利]用于测量集成电路中的功耗的方法和系统有效
| 申请号： | 201110259186.9 | 申请日： | 2011-09-05 |
| 公开（公告）号： | CN102478603A | 公开（公告）日： | 2012-05-30 |
| 发明（设计）人： | M·埃科特;R·弗莱驰;C·赛维尔罗;O·A·托雷特;T-M·温克尔;J·萨珀 | 申请（专利权）人： | 国际商业机器公司 |
| 主分类号： | G01R21/06 | 分类号： | G01R21/06;G01R31/28 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 付建军 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及用于测量集成电路中的功耗的方法和系统。提供了一种用于确定集成电路(10)内的功率域(12)的功耗的方法(100)。在第一步骤(110)中，确定这个功率域(12)的局部电源阻抗剖面(Z(f))。随后，在功率域(12)中执行良定义的周期性活动(50)的同时测量局部时间分辨电源电压(U(t))(步骤120)。因此累积一组时域测量的电压数据(U(t))并把其变换到频域以产生电压谱(U(f))(步骤130)。通过使用这个功率域(12)的电源阻抗剖面(Z(f))，按照I(t)＝Ff-1{U(f)/Z(f)}从该电压剖面(U(f))计算电流谱I(t)(步骤140)。最后，从测量的电压谱(U(t))和计算的电流谱(I(t))确定时间分辨功耗谱P(t)(步骤150)。可以把该功耗(P(t))与基准(Pref(t))进行比较(步骤160)以验证功率域(12)内的功耗是否符合预期。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 集成电路 中的 功耗 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种用于确定集成电路(10)内的功率域(12)的功耗的方法(100，100’)，包括下述步骤：‑确定所述功率域(12)的局部电源阻抗剖面(Z(f))(步骤110、110’)，‑在执行特定于所述功率域(12)的周期性活动的同时测量局部电源电压(U(t))(步骤120、120’)；‑求得所测量的局部电源电压(U(t))的电压谱(U(f))(步骤130、130’)；‑从所述阻抗剖面(Z(f))和所述电压谱(U(f))计算关联的电源电流(I(t))(步骤140、140’)；以及‑从所述电源电流(I(t))和测量的电源电压(U(t))确定功耗谱(P(t))(步骤150、150’)。
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