[发明专利]模拟试验场地非接触三维坐标测量方法及所用的装置无效

专利信息
申请号: 201110243423.2 申请日: 2011-08-24
公开(公告)号: CN102353329A 公开(公告)日: 2012-02-15
发明(设计)人: 李建桥;刘庆平;李因武;樊世超;何玲;杨艳静;邹猛;张锐;王洋;李豪;范文峰 申请(专利权)人: 吉林大学
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/24;G01B11/03;G01C7/02
代理公司: 长春市四环专利事务所 22103 代理人: 张建成
地址: 130025 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明公开了一种拟试验场地非接触三维坐标测量方法及所用的装置,该方法利用三台激光测距仪分别测量三个已知点到被测点的距离,测量数据输入给中央处理器CPU,由中央处理器CPU计算出被测点的三维坐标,通过测量各种几何形貌的特征点坐标,中央处理器CPU计算出被测表面形貌的几何参数;如通过测量坡面上不在同一条直线的三个点的三维坐标,中央处理器CPU计算出坡面的角度;通过测量圆周上三个点的坐标,确定圆心坐标;所用的装置是由三台激光测距仪、三个电动云台、三个支架和中央处理器CPU组成,激光测距仪通过电动云台设置在支架上,三台激光测距仪测量的三个已知点到被测点的距离数据输入给中央处理器CPU;本发明测量精度高,测量速度快,成本低。
搜索关键词: 模拟 试验 场地 接触 三维 坐标 测量方法 所用 装置
【主权项】:
一种模拟试验场地非接触三维坐标测量方法,该方法是:利用三台激光测距仪分别测量三个已知点到被测点的距离,三个已知点到被测点的距离数据输入给中央处理器CPU,由中央处理器CPU计算出被测点的三维坐标,通过测量各种几何形貌的特征点坐标,中央处理器CPU计算出被测表面形貌的几何参数。
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