[发明专利]在3D成像系统中测定距离无效

专利信息
申请号: 201110240935.3 申请日: 2005-07-06
公开(公告)号: CN102411146A 公开(公告)日: 2012-04-11
发明(设计)人: J·迪米斯戴尔 申请(专利权)人: 拓普康定位系统公司
主分类号: G01S17/89 分类号: G01S17/89;G01S7/486
代理公司: 北京北翔知识产权代理有限公司 11285 代理人: 杨勇;郑建晖
地址: 美国加*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种对目标成像的系统和方法。在成像平面中安装检测器阵列。所述阵列检测器中的每个检测器都连接到具有内插器的计时电路,其中所述内插器包括以与放电不同的速率对第一电容器充电的第一电路。光脉冲朝目标传输,以便所述光脉冲的一部分作为反射脉冲从所述目标反射,并且记录表示何时所述光脉冲朝所述目标传输的第一数值。所述反射脉冲在一个或多个检测器上被检测,并且记录所述脉冲的脉冲特征和表示何时所述反射脉冲到达所述检测器的第二数值。然后以所述第一和第二数值以及反射脉冲的特征的函数的方式计算到所述目标的距离。
搜索关键词: 成像 系统 测定 距离
【主权项】:
一种对目标成像的方法,包括:在成像平面中安装检测器阵列;将所述检测器阵列中的每一个检测器连接到具有一个或多个内插器的计时电路,其中,每个内插器包括一个或多个内插器电路,其中每个内插器电路以与其放电不同的速率对电容器充电;朝目标传输光脉冲,以便所述光脉冲的一部分作为反射脉冲从所述目标反射,其中,传输所述光脉冲包括记录第一数值,其中所述第一数值表示所述光脉冲何时被朝所述目标传输;检测所述反射脉冲到达所述检测器阵列中的一个或多个检测器,其中,检测所述反射脉冲的到达包括:测定表示所述反射脉冲的振幅的反射脉冲特征;以及记录第二数值,其中,所述第二数值表示所述反射脉冲何时到达所述检测器;以所述第一数值和第二数值以及所述反射脉冲特征的函数的方式测量到所述目标的距离;估计距离测量的模糊函数;接收所述三维目标的一组空间测量;以及基于所估计的模糊函数和所述空间测量作出一组新的空间估计。
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